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       X射線熒光光譜儀具有不破壞樣品，準(zhǔn)確度高，分析速度快，能測(cè)定固體、粉末和液體樣品，能適用于常量和微量元素測(cè)定等優(yōu)點(diǎn)，被人們廣泛的重視利用。手持式光譜儀利用X熒光光譜技術(shù)，可在礦區(qū)的勘探檢測(cè)上有很好的應(yīng)用。

       土壤巖石濕度對(duì)測(cè)量效果的影響

       濕度效應(yīng)是指被測(cè)土壤巖石對(duì)象中含水量的變化引起X熒光測(cè)量結(jié)果的變化，其影響機(jī)理是水（相對(duì)于空氣）對(duì)元素特征X射線的吸收和水（相對(duì)于空氣）對(duì)激發(fā)源初級(jí)射線散射的增強(qiáng)。當(dāng)測(cè)量對(duì)象是室內(nèi)預(yù)先制備的粉末樣品時(shí)，其濕度效應(yīng)很小可忽略不計(jì)，但對(duì)現(xiàn)場(chǎng)X熒光光譜測(cè)量,其測(cè)量對(duì)象是天然巖石或土壤，當(dāng)濕度變化較大時(shí)，則不可忽視。一般在早晨和中午，由于日照和溫度的影響，巖石土壤濕度不同；雨前和雨后，由于大氣降水和巖石土壤對(duì)水分不同程度的吸收，濕度變化更大。

       巖石的露頭測(cè)量與粉末樣測(cè)量結(jié)果

       在進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)巖石X射線熒光光譜測(cè)量時(shí)，測(cè)量面的平整度和新鮮度亦會(huì)影響測(cè)量效果。測(cè)量面的平整度影響表現(xiàn)在：當(dāng)探頭有效測(cè)域內(nèi)的巖面凹凸不平時(shí)，將使探頭內(nèi)激發(fā)源到測(cè)量面上各點(diǎn)的距離（即原樣距）不同，同時(shí)也造成測(cè)量面上各點(diǎn)產(chǎn)生的特征X射線或者散射線到達(dá)探測(cè)器的距離各不相同，從而影響X熒光的測(cè)量效果。測(cè)量面的新鮮度影響表現(xiàn)在：當(dāng)巖石、礦石表面存在粉塵或其他污染物時(shí)，不但可屏蔽初級(jí)射線進(jìn)入到巖、礦石表面，也屏蔽了來自礦石發(fā)出的目標(biāo)元素特征X射線，從而使原位X輻射取樣產(chǎn)生很大的誤差。當(dāng)圍巖粉塵覆蓋在礦石表面時(shí)，主要是吸收初級(jí)和次級(jí)射線，使取樣結(jié)果偏低；而礦層粉塵吸附在礦段或者圍巖表面時(shí)，則造成取樣結(jié)果偏高的假象。由于地表的氧化或風(fēng)化作用，一般巖石、礦石表面都會(huì)不同程度地形成氧化面或風(fēng)化層，會(huì)降低X熒光光譜的測(cè)量效果。因此在進(jìn)行X熒光光譜測(cè)量時(shí)，應(yīng)盡可能選擇平整和新鮮巖石表面。

       以上，就是本次為大家?guī)淼年P(guān)于手持式光譜儀在礦區(qū)勘探上的應(yīng)用的另外2部分注意點(diǎn)。