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CCD/CMOS光電直讀光譜儀快速發(fā)展
發(fā)布時(shí)間:2021-04-13 10:00:50 點(diǎn)擊:3447
近幾年來是光電直讀光譜儀發(fā)展比較迅猛的幾年,早幾年前市場(chǎng)上的光電直讀光譜儀機(jī)型采用的都是用光電倍增管作為檢測(cè)器,但是近幾年,進(jìn)口品牌及國(guó)內(nèi)品牌不約而同采用CCD作為檢測(cè)器,后又采用CMOS,但CCD及CMOS其實(shí)概念是同樣的,此種光譜儀器在快速發(fā)展。
近年來CCD技術(shù)得到較好的發(fā)展,幾乎所有進(jìn)口品牌推出了CCD產(chǎn)品。CCD和PMT是業(yè)界爭(zhēng)論的一個(gè)焦點(diǎn),私認(rèn)為這兩種技術(shù)不能簡(jiǎn)單評(píng)判哪種更好,而是各有各的優(yōu)勢(shì)和局限性。PMT 有著噪聲低、動(dòng)態(tài)范圍大等特點(diǎn),應(yīng)用比CCD要久遠(yuǎn)的多,但既然CCD能夠進(jìn)入光譜分析領(lǐng)域,一定程度上代替PMT,一定有其特有的優(yōu)勢(shì),而這種優(yōu)勢(shì)就在于測(cè)量上,它為火花直讀光譜分析技術(shù)的發(fā)展提供了更多的可能性。它能做全譜檢測(cè),同時(shí)在后期增加檢測(cè)基體時(shí),也不用返廠重新進(jìn)行物理更新,只需做軟件上的維護(hù)。目前,CCD技術(shù)已經(jīng)被廣泛的應(yīng)用,多種檢測(cè)儀器上均采用此類檢測(cè)器。
CCD檢測(cè)器
CCD成為光譜分析儀器的重要發(fā)展方向,這一點(diǎn)已經(jīng)得到絕大多數(shù)人的認(rèn)可,但CCD技術(shù)的廣泛利用,并不意味著PMT技術(shù)的沒落,PMT技術(shù)在目前還是有其優(yōu)勢(shì)的。任何一種新技術(shù)取代舊技術(shù)都需要一個(gè)過程。CCD面臨的主要問題是噪聲和讀出速度,如果這兩點(diǎn)能夠得到很好的解決,PMT很可能會(huì)退出直讀光譜市場(chǎng)。當(dāng)然現(xiàn)在的CCD廠商都在努力克服此兩種缺點(diǎn),并有一定成效。目前,ICP儀器上CCD通過制冷很好的解決了噪聲的問題,基本取代了PMT,在火花直讀光譜領(lǐng)域,CCD一定也能獲得相同的成績(jī)。
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